專利審查基準及實務. 上, 程序、發明(I)篇

點閱:3

作者:張仁平著

出版年:2012[民101]

出版社:元照

出版地:臺北市

格式:PDF,JPG

ISBN:978-986-255-177-6 ; 986-255-177-1


本書結合國際法規、審查基準、重要案例及歷屆考題等四大部分,完整詮釋專利審查基準及實務,包括程序、發明、新式樣、新型及舉發等五篇,分為上下兩冊。

上冊內容為程序審查篇及發明專利實體審查篇最重要之第一至三章;其中彙整案例共244則,考題達1063題,內容充實深入完整。

本書適用對象廣泛,舉凡專利審查人員審案及訓練之參考、從業者(事務所之專利師及專利工程師、專利代理人及專利工程師、企業之智權及法務人員)申請專利之實務及研究參考、有志從事專利工作者之入門及應試參考(專門職業及技術人員高考專利師考試、智慧財產人員能力認證考試、專利審查官特考)等,皆可各取所需。

張仁平

現職:經濟部智慧財產局專利高級審查官兼科長。審查基準小組召集人。
經歷:1980年至1981年任職南亞塑膠公司副工程師,1981年至1984年任職大學及技術學院化工系講師。1984年進入經濟部中央標準局(智慧財產局前身),擔任專利審查委員、化工審查組組長。2000年第一屆經濟部專利審查官特考及格,擔任經濟部智慧財產局專利助理審查官、專利審查官、審查基準科科長,負責完成現行發明專利審查基準、專利侵害鑑定要點、中草藥專利審查基準。曾至世界智慧財產權組織(WIPO)、歐洲專利局(EPO)及美國、日本、英國、法國、荷蘭等專利局參訪研訓。擔任智慧財產培訓學院種籽師資培訓班講師、專利研討會講者及大學、法院、協會、機關、廠商等專利專題講座。
學歷:台灣大學化工碩士。

  • 序(p.I)
  • 現行專利審查基準總目錄(p.IV)